一般來說為了評價分析電子產(chǎn)品可靠性而進行的試驗稱為可靠性試驗，是為預(yù)測從產(chǎn)品出廠到其使用壽命結(jié)束期間的質(zhì)量情況，選定與市場環(huán)境相似度較高的環(huán)境應(yīng)力后，設(shè)定環(huán)境應(yīng)力程度與施加的時間，主要目的是盡可能在短時間內(nèi)，正確評估產(chǎn)品可靠性。

　　常規(guī)電工電子設(shè)備環(huán)境試驗項目及檢測標準：

　　1.低溫試驗電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫GB/T2423.1-2008，IEC60068-2-1:2007

　　2.高溫試驗電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗B：高溫GB/T2423.2-2008，IEC60068-2-2:2007

　　3.恒定濕熱試驗環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cy:恒定濕熱主要用于元件的加速試驗GB/T2423.50-2012，IEC60068-2-67:1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cab：恒定濕熱試驗GB/T2423.3-2006，IEC60068-2-78：2001

　　4.交變濕熱試驗電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗Db：交變濕熱(12h+12h循環(huán))GB/T2423.4-2008，IEC60068-2-30:2005

　　5.振動試驗電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Fi:振動混合模式GB/T2423.58-2008，IEC60068-2-80:2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Fh：寬帶隨機振動(數(shù)字控制)和導(dǎo)則GB/T2423.56-2006，IEC60068-2-64:1993電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Fc和導(dǎo)則：振動(正弦)GB/T2423.10-2008，IEC60068-2-6:1995

　　6.溫度變化環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗N:溫度變化GB/T2423.22-2012，IEC60068-2-14:2009

　　7.溫度/濕度組合循環(huán)環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗GB/T2423.34-2012，IEC60068-2-38:2009

　　8.跌落電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Ed:自由跌落GB/T2423.8-1995，IEC60068-2-32:1990

　　9.機械沖擊電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Ea和導(dǎo)則:沖擊GB/T2423.5-1995，IEC60068-2-27:1987

　　10.碰撞電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Eb和導(dǎo)則:碰撞GB/T2423.6-1995，IEC60068-2-29:1987

　　11.傾跌與翻倒電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Ec和導(dǎo)則:傾跌與翻倒(主要用于設(shè)備型樣品)GB/T2423.7-1995，IEC60068-2-31:1982

　　12.砂塵電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗L：沙塵試驗GB/T2423.37-2006，IEC60068-2-68:1994

　　13.鹽霧人造氣氛腐蝕試驗鹽霧試驗GB/T10125-2012，ISO9227:2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Ka：鹽霧GB/T2423.17-2008，IEC60068-2-11:1981

　　14.溫度沖擊環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗N:溫度變化GB/T2423.22-2012，IEC60068-2-14:2009

　　15.外殼防護外殼防護等級(IP代碼)GB4208-2008，IEC60529:2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗R：水試驗方法和導(dǎo)則GB/T2423.38-2008，IEC60068-2-18:2000

　　16.低溫/振動(正弦)綜合試驗

　　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z/AFc：散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動(正弦)綜合試驗GB/T2423.35-2005，IEC60068-2-50:1983

　　17.高溫/振動(正弦)綜合試驗

　　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z/BFc：散熱和非散熱試驗樣品的高溫/振動(正弦)綜合試驗GB/T2423.36-2005，IEC60068-2-51:1983

　　18.溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(隨機)綜合電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z/ABMFh：溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(隨機)綜合GB/T2423.59-2008

　　19.(低溫、高溫)/低氣壓/振動(正弦)綜合GB/T2423.102-2008

　　20.可靠性試驗設(shè)備可靠性試驗恒定失效率假設(shè)下的失效率與平均無故障時間的驗證試驗方案GB/T5080.7-1986，IEC60605-7:1978設(shè)備可靠性試驗恒定失效率假設(shè)的有效性檢驗GB/T5080.6-1996，IEC60605-6:1989設(shè)備可靠性試驗成功率的驗證試驗方案GB/T5080.5-1985，IEC60605-5:1982設(shè)備可靠性試驗可靠性測定試驗的點估計和區(qū)間估計方法(指數(shù)分布)GB/T5080.4-1985，IEC60605-4:1978可靠性試驗第2部分：試驗周期設(shè)計GB/T5080.2-2012，IEC60605-2:1994可靠性試驗第1部分：試驗條件和統(tǒng)計檢驗原理GB/T5080.1-2012，IEC60300-3-5:2001

　　實驗室完全按照ISO/IEC17025：2005《檢測和校準實驗室能力的通用要求》(CNAS-CL01)《檢測和校準實驗室能力認可準則》)的要求開展測試服務(wù)，秉承：管理科學(xué)，公平公正;操作規(guī)范，數(shù)據(jù)準確;安全保密，廉潔自律的質(zhì)量方針和第三方公正實驗室的職業(yè)道德，熱誠為國內(nèi)客戶提供標準、檢測、認證工作的全方位服務(wù)。